Seminário de Matéria Condensada - 16/04/2015, 11:00, Sala de reuniões do 1P

Cálculo ab initio da intensidade Raman de primeira ordem em sistemas com poucas camadas de grafeno

Marcus Moutinho - IF-UFF

Desenvolvemos uma metodologia que nos permite estudar processos Raman, a princípio, de primeira ordem, através de uma abordagem puramente ab initio com o uso da teoria do funcional da densidade (DFT). Em nossos cálculos, a intensidade Raman é obtida através da derivada da susceptibilidade elétrica de um sistema com respeito aos seus modos normais de vibração, fazendo uso do bem conhecido código computacional SIESTA. Nossos resultados preliminares mostram que esta metodologia pode ser aplicada ao estudo de processos de primeira ordem em mono, bi e tricamandas de grafeno, além de outros sistemas de interesse, desde que sejam respeitadas certas condições.

 
 
moutinho.txt · Last modified: 2015/04/15 09:46 by daiara
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